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高加速寿命试验机 发布时间:2024-12-13 11:44:12

在现代电子产品的研发和生产过程中,可靠性测试显得尤为重要。金鉴实验室凭借其先进的测试设备和专业的技术团队,能够为客户提供全面的高度加速寿命试验服务,确保产品在极端环境下的性能稳定。


1.图片展示


昆山庆声-高度加速寿命试验机-HAST-A PLUS (1).JPG

高度加速寿命试验机


2.适用样品

  • 可用于印刷线路板(PCB&FPC)、IC半导体、液晶面板等产品

  • 样品尺寸不大于30cm*30cm

金鉴实验室针对这些样品,提供专业的环境测试服务,帮助客户评估产品在高温高湿条件下的可靠性。


3.依据标准

  • IEC60068-2-66 Test methods -Test Cx: Damp heat, steady state(unsaturated pressurized vapour)

  • JESDEC-A110

  • JESDEC-A118

金鉴实验室严格遵循国际标准,确保测试结果的准确性和可靠性。


4.测量范围

温度可控范围:105~143℃

湿度可控范围:75~100%RH

常规条件:110℃/85%RH/122kPa、130℃/85%RH/230kPa、121℃/100%RH/205kPa


5.检测项目

  • 高压蒸煮

  • HAST

  • BHAST

在金鉴实验室,我们不仅提供高压蒸煮和HAST等常规检测项目,还能够根据客户的具体需求,设计和实施个性化的测试方案。通过对产品进行全面的检测,帮助客户识别潜在的质量问题,从而提升产品的市场竞争力。


6.应用实例

PCB的PCT试验案例:

说明:PCB板材经PCT试验(121℃/100%R.H./168h)之后,因PCB的绝缘绿漆质量不良而发生湿气渗透到铜箔线路表面,而让铜箔线路产生发黑现象。


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PCB板经PCT试验后铜箔线路发黑


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设备内部图 

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设备运行图


金鉴实验室的团队由国家级人才工程入选者和行业资深管理和技术专家组成,他们在光电半导体材料和器件工厂有着丰富的工作经验,能够提供从产品研发设计到质量评估、可靠性验证的一站式解决方案。 




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