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光耦参数测试仪 发布时间:2023-03-07 11:24:08

一、设备型号

光耦参数测试仪 OCT1400(ST-OCPT_A)


光耦测试机 副本.jpg

光耦参数测试仪


二、产品介绍

OCT1400光耦参数测试仪是专为各种四角三极管型的光电耦合器的功能和参数设计的,其良好的中文见面软件,简化了用户对OCT1400的操作和编程,提供了快速的一次测试条件和测试参数的设计,存入EEPRON中。此外,无需附加任何软件或经过特殊培训,就可操作该仪器。


OCT1400光耦参数测试仪为各种三极管型4脚光耦提供了输入正向压降(VF)和(ICEO),耐压(BVCEO),传输比(CTR)等最主要的参数测试以及参数及格与否(OK/NO)测试,且测试条件可以任意设置,测试正向压降和输出电流最大可达1A,且用户可通过机器上的键盘,很容易的把测试条件输入进去,并将参数存入EEPRON中,便于日后方便且快速地打开调用。


三、产品特点

OCT1400光耦参数测试仪具有以下特点:

1:液晶大屏幕加中文操作界面,直观简洁方便操作;

2:大容量EEPROM存储器,储存了多达1000中设置型号数;

3:内置继电器矩阵自动连接所需的测试电路,电压/电流源和测试回路;

4:重复“回路”式测试解决了元件发热和间歇的问题;

5:拥有软件自校准功能;

6:功能测试电路:

(1)自动模式:自动监测有误DUT放于测试座中,有则处于重复测试状态,无则处于重复检测状态;

(2)手动模式:刚开始未测试时屏幕白屏属于正常现象,当测试开关按下后才自动对测试座中的DUT进行检测测试,长按开关不松开则处于重复测试状态,松开开关则自动停止测试。


四、测试种类

4脚光电:设置4脚三极管类型,如PC817、TLP521、NEC2501等类型。


五、技术指标

 

耐压

BVCEO

测试范围 0-1400V     

分辨率 1V

精度<2%+2RD

测试条件 0-2mA

 

输入正向压降

VF

测试范围 0-2V     

分辨率 2mV

精度<1%+2RD

测试条件 0-1000mA

 

输出端反向漏电流

ICEO

测试范围 0-2000uA     

分辨率 1uA

精度<5%+5RD

测试条件 0-2mA

 

电流传输比

CTR

测试范围 0-9999    

分辨率 1%   

精度<1%+5RD

测试条件 BVCE:0-20V

测试条件 IF:0-100mA

 

输出导通压降

VCE(sat)

测试范围 0-2.000V     

分辨率 2mV

精度<1%+5RD

测试条件 IC:0-1.000A

测试条件 IF:0-1.000V     

 

六、测试条件设置


图片1.png

 

参数定义
VFIF表示测试光耦输入正向VF压降时的测试电流
VceBv表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电压
VceIr表示测试光耦输出端耐压BVCE时输入的测试电流
CTRIF表示测试光耦传输比时输入端的测试电流
CTRVce表示测试光耦传输比时输出端的测试电压
VsatIF表示测试光耦输出导通压降时输入端的测试电流
VsatIc表示测试光耦输出导通压降时输出端的测试电流


七、测试参数


图片2.png 


参数定义
VF正向压降

VCEO:反向击穿电压
CTR:电流传输比
VSAT:输出饱和压降
ICEO:反向截止电流






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