近场光学测试设备(SIG-400) 发布时间:2016-02-15 13:34:38
一.设备型号
近场光学测试设备(SIG-400)
近场光学测试设备(SIG-400)
近场光学测试设备SIG-400可从多角度拍摄光源影像,建立一个光源亮度和色度输出的三维空间图像。在LED测量方面,近场光学测试设备SIG-400支持纵向和横向测试,适应几乎所有常见的光源,可采集和整理LED光源或相似的小面积光源的多角度亮度及色度值,精准的刻划出实际的光效率。汇总并进一步做光效率的分析和光学设计中射线的配置。
SIG-400是对LED光源的优化测量系统,可减少系统的体积及降低成本,并简化测量的工序。SIG-400在测量整个待测件的时,能够精准的定位到待测件的中心点,经测试后误差不超过15微米。
二.技术参数
波长范围:350nm 到1000nm
波长分辨率:大约2nm
波长精度:632.8nm时 +/- 0.25nm
测量功能:亮度,发光强度;色度: CCT;CIE x,y;u’,v’;△E
方位角移动:0°至360°
倾斜角移动:±140°
角度位移量:方位角和倾斜角移动最小位移量0.10°
三.设备功能及特点
针对LED芯片和器件测量进行了优化;
有多种传感器分辨率和不同视场大小的镜头可供选择;
提供亮度和色度近场模型;
利用集成图像数据生成Radiant Source Model™(RSM)以供完整分析;
更简单、更直观的分光仪设置。
四.应用范围
芯片产品的发光均匀度分析
芯片产品的来料检测
封装产品的发光均匀度分析
封装产品的失效分析(色差方向)
封装产品的来料检测
光源产品不同角度的光色参数
芯片及封装产品的寿命评估
五.应用实例
1. 芯片垂直方向发光均匀度测试实例
2. 特定截面光强分布图
- 上一篇: LED灯珠分布光度计
- 下一篇: LED积分球