近场光学测试设备(SIG-400) 发布时间：2016-02-15 13:34:38
一．设备型号
近场光学测试设备(SIG-400)
近场光学测试设备(SIG-400)
近场光学测试设备SIG-400可从多角度拍摄光源影像，建立一个光源亮度和色度输出的三维空间图像。在LED测量方面，近场光学测试设备SIG-400支持纵向和横向测试，适应几乎所有常见的光源，可采集和整理LED光源或相似的小面积光源的多角度亮度及色度值，精准的刻划出实际的光效率。汇总并进一步做光效率的分析和光学设计中射线的配置。
SIG-400是对LED光源的优化测量系统，可减少系统的体积及降低成本，并简化测量的工序。SIG-400在测量整个待测件的时，能够精准的定位到待测件的中心点，经测试后误差不超过15微米。
二．技术参数
波长范围：350nm 到1000nm
波长分辨率：大约2nm
波长精度：632.8nm时 +/- 0.25nm
测量功能：亮度,发光强度；色度: CCT；CIE x,y；u’，v’；△E
方位角移动：0°至360°
倾斜角移动：±140°
角度位移量：方位角和倾斜角移动最小位移量0.10°
三．设备功能及特点
针对LED芯片和器件测量进行了优化；
有多种传感器分辨率和不同视场大小的镜头可供选择；
提供亮度和色度近场模型；
利用集成图像数据生成Radiant Source Model™(RSM)以供完整分析；
更简单、更直观的分光仪设置。
四．应用范围
芯片产品的发光均匀度分析
芯片产品的来料检测
封装产品的发光均匀度分析
封装产品的失效分析（色差方向）
封装产品的来料检测
光源产品不同角度的光色参数
芯片及封装产品的寿命评估
五．应用实例
1. 芯片垂直方向发光均匀度测试实例
2. 特定截面光强分布图
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