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近场光学测试设备(SIG-400) 发布时间:2016-02-15 13:34:38

一.设备型号

近场光学测试设备(SIG-400)

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近场光学测试设备(SIG-400)


近场光学测试设备SIG-400可从多角度拍摄光源影像,建立一个光源亮度和色度输出的三维空间图像。在LED测量方面,近场光学测试设备SIG-400支持纵向和横向测试,适应几乎所有常见的光源,可采集和整理LED光源或相似的小面积光源的多角度亮度及色度值,精准的刻划出实际的光效率。汇总并进一步做光效率的分析和光学设计中射线的配置。


SIG-400是对LED光源的优化测量系统,可减少系统的体积及降低成本,并简化测量的工序。SIG-400在测量整个待测件的时,能够精准的定位到待测件的中心点,经测试后误差不超过15微米。


二.技术参数

波长范围:350nm 到1000nm

波长分辨率:大约2nm

波长精度:632.8nm时 +/- 0.25nm

测量功能:亮度,发光强度;色度: CCT;CIE x,y;u’,v’;△E

方位角移动:0°至360°

倾斜角移动:±140°

角度位移量:方位角和倾斜角移动最小位移量0.10°


三.设备功能及特点

针对LED芯片和器件测量进行了优化;

有多种传感器分辨率和不同视场大小的镜头可供选择;

提供亮度和色度近场模型;

利用集成图像数据生成Radiant Source Model™(RSM)以供完整分析;

更简单、更直观的分光仪设置。


四.应用范围

芯片产品的发光均匀度分析

芯片产品的来料检测

封装产品的发光均匀度分析

封装产品的失效分析(色差方向)

封装产品的来料检测

光源产品不同角度的光色参数

芯片及封装产品的寿命评估


五.应用实例

1. 芯片垂直方向发光均匀度测试实例

LED芯片垂直方向发光均匀度


2. 特定截面光强分布图

LED特定截面光强分布图





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