荧光粉激发光谱特性和热猝灭分析系统发布时间：2017-02-22 05:20:45
型号：远方EX-1000
EX-1000 荧光粉激发光谱特性和热猝灭分析系统可测量稀土三基色荧光粉、白光LED 灯用稀土黄色荧光粉等各类荧光粉的激发光谱特性、发射光谱特性和量子效率，有利于筛选高效的激发光谱，或者在激发光源特定的前提下，改进荧光粉的激发光谱特性，以实现更高的激发-发光转化效率。系统也可测量荧光粉在真实工作状态（高温状态）下的发光特性（热淬灭特性）。
服务设备
- 材料分析
- 透射电镜(TEM)
- 聚焦离子束显微镜 (FIB-SEM)
- 扫描电镜(SEM)
- X射线能谱仪(EDS)
- X射线透视(2D X-ray)
- 氩离子抛光切割机/CP离子研磨截面抛光仪
- 超声波扫描显微镜(C-SAM)
- 微光显微镜（EMMI/OBIRCH）
- 差示扫描量热仪(DSC)
- 热重分析仪(TGA)
- 热机械分析仪(TMA)
- 热阻热瞬态测试仪(T3ster)
- 金相显微镜
- 导热系数测试仪
- 离子色谱仪(IC)
- 显微红外光谱仪(Miro-FTIR)
- 红外热重分析系统(FTIR-TGA)
- 荧光粉激发光谱特性和热猝灭分析系统
- 气相质谱（GCMS）
- 显微热分布测试系统
- 显微光分布测试系统
- 显微红外热点定位测试系统
- 凝胶渗透色谱
- 电感耦合等离子体原子发射光谱仪（ICP-AES /ICP-OES）
- 绝对量子产率测试仪
- 可靠性测试
- 光学分析
- 电学分析
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