多路热电偶温度记录仪 发布时间：2026-09-30
一、业务概述
金鉴实验室配置深华轩MT500P多路温度记录仪，面向LED、电源、PCB、半导体器件、新能源、家电、电机等行业客户提供多点同步温升测试、热分布测试、长时间温度巡检、温度曲线采集第三方测试服务。
本设备可一次性布置多路热电偶探头，同步采集样品多个关键点位实时温度，自动存储温度数据，输出温度变化曲线，量化评估器件、模组、整机的发热特性，支撑产品热设计优化、可靠性验证、失效热分析，可依据对应标准出具专业测试报告，满足研发验证、产品定型、失效分析、客户审厂需求。
二、设备核心技术指标
型号：深华轩MT500P
技术指标
项目 | 显示参数 |
显示方式 | 5寸TFT真彩液晶工业触控屏854*480像素实 |
显示形式 | 实时列表，曲线（历史曲线）、柱图、当前报警（历史报警），文件记录列表 |
记录查询 | 本机查看记录曲线、历史报警记录、电脑软件分析查询 |
通道数量 | 每个模块8通道，最多支持64通道 |
热电偶 | K J E T N S R B |
基本准确度 | 0.2℃±2（不含热电偶误差） |
测量范围 | -200 ~ 1820℃（以热电偶分度范围为准） |
冷端补偿 | 精度：0.5℃ |
分辨率 | 0.1℃ |
校正 | 每通道独立误差修正Y=Kx+b（x=测量值） |
文件数量 | 64个（循环记录） |
文件容量 | 一个文件可以记录13万组数（不区分通道) |
U盘接口 | 导出记录文件，秒变U盘功能（仪器就是U盘），直接查看文件和软件 |
记录时长 | 1秒记录间隔可连续记录97天，计算总时长=记录间隔x97天 |
采样速度 | 每通道快速：0.1s，慢速：1s |
隔离电压 | 通道间隔离：交流/直流电高达350V，高压带电测量，超强抗干扰能力 |
设备优势小结：
1. 最多64通道同步测温，支持8种热电偶类型，宽测温区间，0.1℃高分辨率，冷端补偿精度可达0.5℃；
2. 采样灵活：单通道最快0.1s采样，1s采样间隔下可持续不间断记录长达97天，适配长时间老化伴生温度监控；
3. 通道间350V隔离耐压，抗干扰强，电源板、功率器件等高电磁环境下也可稳定采集；
4. 各通道可独立校准修正，测温准确度高；数据导出便捷，仪器直连电脑即可读取原始记录，数据完整可追溯。
三、可承接测试项目及对应检测标准
适用场景：产品研发热设计验证、可靠性试验伴生温度监测、失效分析热定位、产品对标测试、第三方数据取证
1. 元器件温升测试：LED芯片/灯珠、MOS管、二极管、IC芯片、电阻电容等功率器件工作温升测试
GB/T 24824 LED模块温升测试
GB/T 17573 半导体器件 分立器件
IEC 60747 半导体分立器件
2. 模组/PCB板多点温升测试：驱动电源、PCB主板、背光模组、功率板卡多点热分布测试
GB 4943.1 信息技术设备 安全 第1部分：通用要求
IEC 609501 信息技术设备安全
3. 整机产品温升测试：照明灯具、家电稳态温升试验
GB 7000.1 灯具 第1部分：一般要求与试验
GB 4706.1 家用和类似用途电器的安全 第1部分：通用要求
4. 热分布/热穿透测试：腔体、外壳、散热器多点温度分布测绘，评估散热方案优劣
GB/T 2423.22 环境试验 温度循环（可配套同步测温）
5. 老化/寿命试验温度监控：样品在长时间通电老化过程中，多点温度连续记录
GB/T 2423.2 环境试验 高温试验
6. 对比验证测试：不同散热材料、不同结构方案、不同器件选型的温升对标测试
可按客户企业规范、企标或项目技术协议执行
7. 失效辅助热测试：失效样品通电状态下热点定位，辅助排查过热失效机理
依据电子元器件失效分析相关通用规范，可结合客户技术协议
四、服务行业
LED照明、电源适配器、消费电子、PCB/半导体分立器件等。
五、测试交付成果
1. 原始温度采集数据文件（可导出CSV，客户可自行二次分析）；
2. 完整温度时间温升曲线；
3. 金鉴实验室《温度测试报告》：包含样品信息、布点示意图、测试条件、各点位温升数据、温度曲线、测试结论，可用于研发存档、方案论证、客户汇报。
增值服务：工程师协助进行布点方案设计、测试条件设定，结合热测试数据给出散热优化建议。
六、测试流程
1. 需求沟通：客户提供样品、测试要求、测温点位、通电/环境条件；金鉴工程师评估布点方案，确认测试标准、测试周期与报价；
2. 样品接收：样品登记，拍照存档；
3. 测试准备：热电偶粘贴/固定，探头点位标记，通道配置、采样周期设定；
4. 正式测试：样品上电，多路温度记录仪同步采集并自动存储温度数据；测试人全程监控试验状态；
5. 数据处理：导出原始数据，绘制温升曲线；
6. 报告编制与审核：出具测试报告，经过测试人审核后交付客户；
7. 样品返还：测试完成后样品寄回客户（客户留存样品除外）。
七、客户须知
1. 客户需提供样品供电条件、工作工况、测试环境要求及指定测试标准；高电压、大功率样品需提前说明安全风险；
2. 测温点位建议由客户指定，金鉴工程师可提供布点技术建议；热电偶探头为精密测温部件，样品表面需做好固定，避免探头脱落影响数据；
3. 测试过程如发生样品烧毁、爆裂等风险，实验室有权终止试验；
4. 所有原始测试数据、报告由金鉴实验室归档留存，保证数据可追溯。
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