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激光器显微光热分布测试 发布时间:2022-08-18 14:03:13

一、简介

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金鉴实验室自研显微光热分布测试系统

激光光斑是指激光束在空间中的分布形态。在激光器输出后,激光束会聚焦形成一个小而亮的光斑。激光光斑的形态可以是圆形、椭圆形或其他形状,它取决于激光器的输出模式以及透镜或其他光学元件的干涉和衍射效应,光斑的形态和特性会随着传播距离的变化而改变。


金鉴显微光分布测试系统针对LED、LD及其他光电器件产业打造,可用于观察微米级发光器件的光分布,测试波长范围190nm ~1100nm,包含了紫外和红外不可见光的测试,可用于测量光源的光强分布、直径、发散角等参数。通过CCD测量光强分布,通过算法计算出光源直径等参数,测量光强的相对强度,不需要使用标准灯进行校准。适合光电器件及照明相关领域的来料检验、研发设计和客诉处理等过程,以达到企业节省研发和品质支出的目的。


金鉴显微热分布测试系统已演化到第四代:配备20um的微距镜,可用于观察芯片微米级别的红外热分布;通过软件算法处理,图像的分辨率高达5um,能看清芯片晶道;高低温数显精密控温系统,可以模拟芯片工作温度;区域发射率校准软件设置,以达到精准测温度的目的;具备人工智能触发记录和大数据存储功能,适合电子行业相关的来料检验、研发检测和客诉处理,以达到企业节省20%的研发和品质支出的目的。


二、测试案例

案例一、选iPhone 13 Pro激光雷达中的VCSEL芯片其中一个电极通道,在10mA直流模式下,使用金鉴自研的显微光分布测试系统进行观察,可得到清晰的光斑轮廓,比较单孔光分布和高速相机下抓拍激光模组投射的点阵图案,可以观察到单个出光孔光斑为正六边形。

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案例二、日亚半导体激光器显微光分布分析

使用金鉴自研的显微光分布测试系统可以测量半导体激光器近场光分布,通过对日亚半导体激光器发光近场光分布的测量可以得到半导体激光器的出光位置、有源区发光的均匀性以及电流扩展均匀性等信息,对评估半导体激光器光学性能具有重要意义。

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案例三、日亚半导体激光器显微热分析

使用金鉴实验室自研的显微热分布测试系统可以分析半导体激光器的封装热特性以便加强热管理,提高器件的可靠性和稳定性。

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案例四、使用金鉴自研显微热分布测试系统对iPhone 13 Pro激光雷达中的VCSEL芯片进行测试,在不同直流模式电流下,芯片表面温度分布如图所示。可以看出,芯片没有电极覆盖区域温度最高。

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