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LED封装灯具及半导体化合物
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LED芯片漏电点鉴定 发布时间:2014-03-24

服务客户:LED芯片厂、LED封装厂


鉴定设备:激光扫描显微仪

作为一种新型的高分辨率微观缺陷定位技术,能够在大范围内迅速准确地进行器件失效缺陷定位,
基本上,只要有LED芯片异常的漏电,它都可以产生亮点出来。

原理:用激光束在通电恒压下的LED芯片表面进行扫描,激光束部分能量转化为热能,如果LED芯片存在缺陷点,缺陷处温度将无法迅速通过金属线传导散开,这将导致缺陷处温度累计升高,并进一步引起金属线电阻以及电流变化,通过变化区域与激光束扫描位置的对应,定位缺陷位置。该方法常用于LED芯片内部高阻抗及低阻抗分析,芯片漏电路径分析。


案例分析:某客户送来一款漏电的LED灯珠,委托金鉴查找原因。金鉴用光学显微镜,X射线透视仪,扫描电镜,扫描超声波等检测设备排除其他原因后,最后用激光扫描显微仪,经过激光局部加热后,找出阻值变异最大的地方,也就是电流变异最大的所在,下图为标注了此芯片的漏电点。


LED漏电点


注:漏电点下面可能是空洞,界面缺陷,如若确定那一层芯片制程问题,需做FIB进一步解剖。





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