PCB印刷电路板 LED封装灯具及半导体化合物 LED电源/电子元器件 薄膜太阳能电池/ 锂电池/页岩气 新材料 集成电路 功率器件 可靠性 半导体激光器 AEC-Q102认证

联系我们

广东金鉴实验室科技有限公司

专家团队:

1. 可靠性、FIB-TEM氩离子                  吕工:13503029163(微信同号)

2. LED材料、FIB-TEM、可靠性               贾工:18924211921(微信同号)

3. 失效分析、可靠性、AEC-Q系列认证、FIB-TEM近场光学   金鉴陶工:13928762392(微信同号)

邮政编码 :511340

微信订阅号:ledqalab

电子邮箱:sales@gmatg.com

全国服务热线:400-006-6368                    

LED封装灯具及半导体化合物 您当前的位置: 首页 > 服务产业 > LED封装灯具及半导体化合物

LED封装灯具及半导体化合物
LED封装灯具及半导体化合物

支架式COB光源金线断裂解析报告 发布时间:2014-01-21

样品名称:支架式COB光源
样品规格:/
委托单位:XXXX有限公司

检 测 报 告

委托单位

XXXX有限公司

地址

XXXX

联系人

XXX

联系电话

XXXX

收样日期

2013-12-25

检测日期

2013-12-25

样品名称

支架式COB光源

型号规格

/

检测要求

用X-ray观察失效样品的内部结构

环境温度

25oC

环境湿度

55% RH

结论:检测结果见检测报告图2到图8



1、样品描述

受客户委托,对失效样品的内部结构进行X-ray观察,样品外观如图1所示。
 

支架式COB光源外观图
图1 支架式COB光源外观图


2、测试方法
依据GB/T 19943-2005 无损检测金属材料X和伽玛射线照相检测基本规则,用X-Ray检测仪观察支架式COB光源样品的内部结构。

3、测试结果
检测结果见图2到图8。

失效样品的内部结构情况(X射线透视机)

图2失效样品1的内部结构情况(X射线透视机)


失效样品的内部结构情况(X射线透视机)
图3失效样品2的内部结构情况(X射线透视机)

 失效样品的内部结构情况(X射线透视机)
图4失效样品3的内部结构情况(X射线透视机)

失效样品的内部结构情况(X射线透视机)
图5失效样品4的内部结构情况(X射线透视机)

失效样品的内部结构情况(X射线透视机)
图6 失效样品5的内部结构情况(X射线透视机)

失效样品的内部结构情况(X射线透视机)
图7失效样品6的内部结构情况(X射线透视)

失效样品的内部结构情况(X射线透视机)
图8 失效样品7的内部结构情况(X射线透视机)




扫一扫,咨询在线客服