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广东金鉴实验室科技有限公司

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服务项目
PCB、支架、连接器产业

偏置高压加速温湿度-导电阳极丝综合测试(B-HAST+CAF) 发布时间:2026-10-27

带偏压高加速温湿度+导电阳极丝验证测试,是把B-HAST(Biased-HAST带偏压高加速温湿度应力测试)与CAF导电阳极丝失效验证相结合的综合可靠性试验,区别于无偏压U-HAST。相较于传统THB双85千小时级试验,B-HAST+CAF测试通过高温高压高湿叠加直流偏置电场,快速激发CAF导电阳极丝与铜电化学迁移失效,大幅压缩验证周期,广泛用于PCB、IC载板、FPC、PCBA、塑封封装器件的湿热绝缘可靠性评估。


一、业务简介

金鉴实验室面向刚性PCB、FPC挠性板、刚挠结合板、IC封装载板、PCBA组件、塑封器件,提供B-HAST+CAF综合测试服务。


在密闭箱体内创造高温、高湿饱和水汽环境,持续施加直流偏置电压,加速水汽渗入基材、树脂-玻纤界面,在电场耦合作用下诱发CAF导电阳极丝生长、铜电化学迁移、绝缘劣化、金属腐蚀等失效模式。


该测试核心目的:快速评估板材、阻焊层、孔壁系统的抗CAF离子迁移能力,预判产品长期湿热工况下漏电、短路风险;可替代部分长时间THB(双85)试验,服务材料选型、工艺验证、车载/通信高可靠产品鉴定、CAF漏电短路失效复现分析。



二、测试项目明细

1、测试项目:B-HAST+CAF 偏置高压加速温湿度-导电阳极丝综合测试

2、英文名称:Biased-Highly Accelerated Stress Test + Conductive Anodic Filament(B-HAST+CAF)

3、执行标准:JEDEC JESD22-A110、IPC-TM-650 2.6.25、IEC 60068-2-66

4、测试原理

样品放置于HAST高压加速试验箱内,典型条件130℃/85%RH,对梳状电极图形或者通孔-通孔CAF测试coupon持续施加直流偏置电压;水汽渗透进入树脂玻纤界面,在直流电场驱动下铜金属发生电解、离子迁移,快速生长CAF导电阳极丝;设备全程实时监控绝缘电阻变化,把传统THB上千小时才会暴露的CAF绝缘失效,在短时间加速显现出来。

5、判定标准

- 合格:试验全程绝缘电阻维持标准/客户阈值之上(常规≥10⁸Ω);绝缘电阻无断崖式跌落,无不可逆漏电、无短路现象。

- 失效:绝缘电阻大幅下跌、发生短路、漏电流持续超标即判定失效;试验结束后通过金相切片确认样品内部是否生成CAF金属枝晶迁移通道。


常用试验条件

① 130℃,85%RH,最大额定直流偏压,96h(行业最常用B-HAST+CAF条件)

② 110℃,85%RH,最大额定直流偏压,264h


支持依据客户规格书自定义温度、湿度、偏压、试验时长;可增加回流焊MSL预处理,模拟真实SMT组装工况。


试验对比参考


测试项目核心特点主要评估方向

B-HAST+CAF(带偏压)

加速应力,典型96h电场+湿热耦合下CAF导电阳极丝、电化学迁移风险
U-HAST(无偏压HAST)
不加电压单纯湿热带来基材腐蚀、树脂界面水解问题
THB双8585C°/85%RH,1000h传统稳态温湿偏置验证,试验周期长


三、适用样品

PCB裸板、IC载板、FPC挠性板、刚挠结合板、PCBA组件、塑封半导体器件;适配车载电子、通信服务器、工控设备、新能源、光电等高可靠性产业链产品。


四、业务用途

1. PCB基材、PP半固化片、阻焊油墨的抗CAF导电阳极丝能力快速筛选对比;

2. 通孔、盲埋孔孔间绝缘可靠性验证,评估孔壁灯芯效应诱发CAF短路风险;

3. 替代部分长时间THB双85试验,缩短研发阶段CAF可靠性验证周期;

4. 满足IATF16949、ISO17025、IPC体系审核与客户产品认证需求;

5. CAF漏电、电化学迁移短路的失效现象复现,解析失效机理;

6. 评估回流焊组装预处理之后,板材抵抗CAF迁移的湿热绝缘可靠性。


五、金鉴实验室交付内容

1. 正式检测报告:完整记录试验条件、预处理信息、绝缘电阻实时监测曲线、试验前后电阻数据、CAF相关判定结论;

2. 原始监测数据、完整试验记录;

3. 失效样品可选配套金相切片、SEM-EDS分析,直观确认CAF枝晶形貌、金属离子迁移腐蚀证据;

4. 工程师专业风险点评,输出板材、PCB设计、生产工艺优化建议,降低CAF失效概率。


六、客户需提供资料

1. 样品基础信息:板材类型、板厚、铜厚、表面处理;是否需要回流焊MSL预处理;

2. 测试Coupon:梳状电极图形试片、通孔-通孔CAF专用测试试片,明确需要监控的测试网络;

3. 测试条件:温度、湿度、直流偏置电压、试验总时长;

4. 判定标准:绝缘电阻合格阈值、允许电阻下降幅度,可提供客户规格书或IPC/JEDEC规范文件。


七、金鉴实验室服务说明

1. 计费模式:按样品数量、测试通道、试验时长计费;多通道批量测试可优惠报价;

2. 样品属性:本项目属于破坏性加速可靠性试验,完成测试后样品无法恢复原始状态;剩余样品可返还客户;

3. 周期:B-HAST本体试验96h起算,叠加预处理、试验前后电测,整体周期5-8个工作日;更长试验时长可协商排期;

4. 保密机制:样品、测试原始数据、测试方案严格保密,支持签署NDA保密协议;

5. 备注:B-HAST+CAF属于加速摸底对比试验,用于快速识别CAF风险;若要做产品合规鉴定,建议同步搭配THB(双85)试验作为对照验证。


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