一、业务概述

金鉴实验室面向印制电路板、SMT组装件、半导体封装器件、精密电子零部件，开展表面可萃取离子污染度测试（氯化钠当量法，ROSE法），检测服务参照IPC-TM-650-2.3.25标准执行。

本项目用于评估电子元器件表面助焊剂残留、卤离子、有机酸、盐分等水溶性可电离污染物总量；预判潮湿环境下漏电、电化学迁移、铜箔腐蚀、绝缘下降等可靠性失效风险；可用于清洗工艺验证、制程品质管控、不良失效溯源、来料验收、车载及军工电子产品可靠性评估。

> 方法说明：氯化钠当量法（ROSE）

> 使用75%异丙醇+25%超纯水混合萃取溶剂，浸泡萃取样品表面可溶性离子；测量萃取液电导率变化，对照氯化钠标准曲线，将所有离子导电总量换算成等效氯化钠含量；结果以μg Eq NaCl/cm²（微克氯化钠当量/平方厘米）表示，数值越高代表离子污染越严重。

> 本方法给出总离子当量，不能区分具体离子种类；如需检测氯离子、硫酸根等单种离子成分，可升级离子色谱测试项目。

 二、测试硬件与技术配置

1. 全自动离子污染测试仪（ROSE）

2. 高精度温度补偿电导率传感器，实时连续监测萃取液电导曲线

3. 18.2 MΩ·cm超纯水制备系统、色谱级异丙醇试剂

4. 氯化钠标准校准溶液，定期标定电导-浓度换算曲线

5. 精密面积测量系统，精准计算样品受检表面积

6. 恒温萃取槽，萃取温度、时间参数可程序化设定

7. 洁净前处理操作台，无离子污染手套、镊子等防污染耗材，避免二次污染干扰测试结果

 三、可承接检测项目清单

 1、标准离子清洁度测试（氯化钠当量法）

- 静态浸泡萃取测试

- 动态循环萃取测试（实时电导-时间变化曲线）

- 空白溶剂对照扣除背景，保障结果准确度

- 输出结果：总离子污染度（μg Eq NaCl/cm²）

 2、配套增值服务

1. 工艺对比测试：清洗前-清洗后样品对照，验证清洗工艺效果；

2. 可靠性风险评估：对照IPC行业阈值给出污染风险判定建议；

3. 联合失效分析：离子污染超标样品，可配套离子色谱IC、SEM-EDS、XPS、FTIR设备开展污染物成分溯源；

4. 批量制程巡检服务，提供长期工厂制程品质监控。

 四、典型应用行业与测试样品范围

 1、PCB线路板行业

裸铜板、FR-4印制电路板、FPC柔性板、陶瓷基板、覆铜板，评估蚀刻液残留、阻焊药水残留。

 2、SMT贴片组装件

焊接后PCBA板、BGA模块、连接器，检测助焊剂、锡膏有机酸残留。

 3、半导体&光电行业

芯片封装外壳、引线框架、光电器件、陶瓷器件、功率器件，排查表面盐分离子污染引发腐蚀失效。

 4、车载电子、工业控制、军工医疗高可靠部件

严苛环境电子产品清洗工艺验收、可靠性验证。

 五、行业参考判定阈值（仅供工艺参考，以客户产品规范为准）

|产品等级|合格参考上限 μg Eq NaCl/cm²|

|消费类常规电子产品|≤1.56|

|工业级、车载电子产品|≤1.00|

|军工、医疗、高精密器件|≤0.50|

数值超标，代表表面离子污染物偏高，高湿环境存在腐蚀、漏电、枝晶生长（CAF）失效隐患。

 六、样品接收要求

1. 样品形态：固体片状、板状电子组件；样品表面干燥，无大量油污、胶水厚残留；

2. 尺寸建议：样品受检表面积建议≥20 cm²；过小样品会因溶剂空白误差增大带来测试偏差，送样前可提前沟通最小尺寸可行性；

3. 送样防护：禁止裸手触碰待测表面；样品使用洁净密封袋封装，避免人手汗渍、外界粉尘二次污染；

4. 样品标识：请标注单面/双面测试，是否需要避开元器件、指定测试区域；

5. 不可测试样品：遇异丙醇溶剂会溶解、掉色、涂层脱落的样品，提前告知评估风险。

 七、交付成果

1. 正式检测报告：包含测试依据标准、萃取条件（溶剂配比、温度、时长）、样品表面积参数、电导率原始数据、氯化钠当量测试结果、实时电导-时间曲线图；

2. 原始测试数据文件；

3. 技术解读：测试完成后可提供离子污染结果风险分析建议。

 八、金鉴实验室检测优势

1. CNAS认可第三方材料实验室，检测报告公信力强，可用于项目验收、品质举证；

2. 严格按照IPC-TM-650-2.3.25规范开展ROSE氯化钠当量法测试，仪器定期校准，空白管控严格，测试数据重复性好；

3. 一站式污染物溯源方案：离子当量超标后可直接联动离子色谱、XPS、SEM-EDS等设备，锁定具体有害离子种类与污染源；

4. 支持小批量样品快速测试、工厂大批量制程巡检、长期工艺对比试验合作。

 九、业务对接送样指引

送样咨询时请提供：样品类型（PCB/PCBA/陶瓷器件等）、单面/双面萃取、样品尺寸、是否有企业内控合格标准，实验室评估样品可行性、测试周期以及报价。