AEC-Q102高温工作寿命中关于降额曲线的介绍 发布时间：2024-08-21
在产品规格书中，降额曲线对于高温操作寿命（HTOL）测试具有重要影响。HTOL测试是一种评估半导体器件在高温和偏置条件下的可靠性的方法。以下是对HTOL测试中降额曲线影响的详细解释：
HTOL1测试：
测试温度：设定为最大额定焊温（Tsolder）。
驱动电流选择：根据规格书中的最大降额曲线，在最大焊温下选择相应的最大驱动电流。例如，如果最大焊温（Tsolder）对应的最大驱动电流为300mA，则在此温度下进行测试。
HTOL2测试：
测试电流：在最大额定电流下进行测试。
焊温选择：根据规格书中的数据，选择在最大额定电流下对应的最大焊温（Tsolder）。例如，如果最大驱动电流为450mA，对应的最大焊温为110℃，则在此电流下进行测试。
降额曲线的重要性：
如果电流与焊温的曲线没有降额阶段，即曲线是线性的或没有明显的降额点，那么HTOL1和HTOL2测试可以视为等效的。在这种情况下，只需要进行其中一项测试即可。
金鉴实验室介绍：
金鉴实验室是一家专业从事光电半导体芯片和器件失效分析的科研检测机构，具有以下特点和资质：
资质认证：拥有国家认可的CMA/CNAS资质，被工信部和广东省工信厅认定为公共服务示范平台。
专业领域：专注于LED行业的失效分析，被誉为行业内的“福尔摩斯”，专门解决重大质量案件。
服务范围：提供从外延片生产到LED驱动电源和灯具应用的全链条解决方案，包括失效分析、材料表征、参数测试、可靠性验证等。
一站式服务：以失效分析为核心，辅以材料、研发、生产工艺的全方位服务，为客户提供一站式的LED行业解决方案。
金鉴实验室以其全面的技术能力和高知名度，在LED领域提供了高质量的检测服务，帮助客户确保产品的可靠性和性能。
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