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3. 陈工 13922171309：XPS 可靠性、激光、PCB气体腐蚀、光热电测试


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2. 文娜：18924212773：司法鉴定

3. 陶工 13928762392：近场光学、AEC-Q102认证

4. 美琼 18126761279：国外客户

5. 笑萍 18924213655 : 激光器


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材料检测

FIB制作TEM样品 发布时间：2017-04-23

金鉴实验室双束FIB承接TEM制样，达到Electron transparent厚度，收样第二天即可出样！

样品制备是TEM分析技术中非常重要的一环， 但由于电子束的穿透力很弱， 因此用于TEM的样品必须制备成厚度约为0.1μm的超薄切片。要将样品切割成如此薄的切片，许多情况下需要用到FIB(Focus Ion Beam， 聚焦离子束) 进行TEM样品的制备。


FIB制作TEM样品


FIB


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寄样地址：广东金鉴实验室科技有限公司，广州市增城区宁西街永宁路7号。

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