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材料检测

切片分析 发布时间:2026-09-18

切片分析就是通过取样、镶嵌、切片、抛磨、腐蚀、观察等一系列手段和步骤获得PCB横截面结构的过程。通过切片分析可以得到反映PCB(通孔、镀层等)质量的微观结构的丰富信息,为下一步的质量改进提供很好的依据。但是该方法是破坏性的,一旦进行了切片,样品就必然遭到破坏;同时该方法制样要求高,制样耗时也较长,需要训练有素的技术人员来完成。要求详细的切片作业过程,可以参考IPC的标准IPC-TM-650 2.1.1和IPC-MS-810规定的流程进行。



LED芯片粘结不牢(扫描电镜SEM)



LED芯片粘结不牢(扫描电镜SEM)



LED芯片粘结错位(扫描电镜SEM)


LED芯片粘结错位(扫描电镜SEM)


冷热冲击后,银胶开裂(扫描电镜SEM)


冷热冲击后,银胶开裂(扫描电镜SEM)
 


LED引线断裂(扫描电镜SEM)


LED引线断裂(扫描电镜SEM)



LED引线开裂(扫描电镜SEM)


LED引线开裂(扫描电镜SEM)

 


LED横截面结构解剖(扫描电镜SEM)


LED横截面结构解剖(扫描电镜SEM)



LED虚焊(扫描电镜SEM)


LED虚焊(扫描电镜SEM)


热冲击后LED焊点观察(扫描电镜SEM)


热冲击后LED焊点观察(扫描电镜SEM)


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