半导体集成电路,芯片 发布时间：2014-01-09
集成电路
OM 照片
集成电路失效分析过程
集成电路的封装和焊接
扫描电镜电压衬度像，晶体管的开合位置
四层晶体管结构集成电路。
EBIC电子束感生电流 sem image
集成电路剖面，微晶体管结构和失效观察。
电路板失效分析
光栅的扫描电镜图像，在Si片上的光刻胶（光阻材料）
350nm周期的光栅 1000nm周期的光栅
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