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X 荧光光谱分析仪(XRF)发布时间:2014-07-29 19:36:25


XRF


X 荧光光谱分析仪(XRF)  

型号:JSX-3202EV   
厂商:日本电子(JEOL)     
分析原理:设备能分析出在钠(Na)元素到铀(U)元素之间的元素,设备是通过荧光X-RAY 照射到样品上产生折射,设备再将折射产生射线进行分析,得出测试结果。

用途:针对ROHS指令关于有害元素的法规研制出来的。它主要是测量塑胶、金属样品中的5大有害元素(Cd、Pb、Cr、Br、Hg)的含量,再对应ROHS指令中关于有害元素的规定,从而判定出该样品是否合格。


X射线荧光光谱法测量元素含量是一种相对测量法,需要事先用标准样品(元素含量已知)来制作元素含量与X荧光强度对应的工作曲线,测试样品(元素含量未知)时,得到X荧光强度,利用工作曲线换成相应的元素的含量。因此标准样品是有效应用X荧光光谱仪的重要前提。


检测设备的特点:  
①  X荧光是物理测试,只能对部品表面进行测试,误差比较大。    
②  只能测试出Cr和Br的总量,不能分析出Cr6+和PBB、PBDE。   
③  设备的探测器需要使用液态氮制冷,费用较高。     
④  对均匀材质表面无污染,无镀层影响的部品,测试结果比较准确。    
⑤  设备最小精确度可以精确到2PPM。    
⑥  测试时无须破坏样品,而且检测速度快。

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