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金鉴显微光热分布设备亮相2019年IPFA国际半导体失效分析研讨会发布时间:2019-07-12

201973-5日,第26届IPFA国际半导体失效分析会议在杭州君悦大酒店隆重召开。IPFA是全球有关半导体物理分析、失效分析及可靠性方面学术水平最高、规模最大、影响力最广的国际会议。

 26届IPFA会议

金鉴实验室是专注于第三代半导体氮化镓和碳化硅芯片和器件失效分析的新业态的科研检测机构,在LED芯片和器件材料检测与失效分析领域已达到了世界领先水平。金鉴实验室有幸被邀请作为参展商出席此次IPFA会议,并向与会专家和学者们介绍和展示自主研发的显微光热分布设备及分享LED照明器件失效分析领域所获得的研究成果

    

       金鉴实验室显微光热分布设备宣传展位        金鉴实验室代表参加会议

 

本次IPFA国际会议致力于对各种先进半导体器件失效分析物理机制的基本原理的理解、电子物理失效分析技术以及可用于准确识别造成这些器件失效的根本原因的方法和工具等。会议的主题将涵盖失效分析和可靠性方向的11个领域,由2位特邀嘉宾报告、8场专业培训讲座、19位嘉宾报告、50位报告者技术前沿分享。

 

IPFA会议前沿成果分享

 

IPFA会议前沿成果分享


金鉴自研发设备很荣幸能成为2019IPFA国际会议上的焦点之一,展会上金鉴研发工程师向参会人员展示了显微红外热分布测试系统、显微光分布测试系统、显微红外热点定位测试系统的性能及优势,并现场答疑专家提出的关于金鉴自研发设备的技术问题。此次展会,金鉴自主研发设备吸引了众多参会专家教授的目光,其中深圳海思半导体、上海华为、成都芯源系统等多家企业专家对我司研发设备颇感兴趣并前来展位详细了解。

金鉴自主研发的显微光热分布设备性能卓著,已获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用,广受老师和科研人员普遍赞誉。

   

海思半导体、上海华为等企业前来了解金鉴设备

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