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【LED电源】金鉴显微红外热测试系统在驱动电源的应用案例发布时间:2019-05-24

    驱动电路设计不合理、电子元器件使用不当等原因往往会造成驱动电源出现过热烧毁现象。利用金鉴显微红外热测试系统,工程师可以迅速而便捷地发现电路上温度异常之处,便于完善电路设计。 


案例一:定位电源失效区域 

    委托单位电源出现失效现象,委托金鉴查找电源失效原因。在该案例中,金鉴使用显微红外热分布测试系统对电源进行测试,发现电源结构中的R5电阻在使用时发热严重,经测温发现该电阻温度高达90。厂家建议碳膜电阻在满载功率时最佳工作温度在70℃以下,而该电源中R5碳膜电阻在90温度下满载工作,长期使用过程中导致R5电阻失效。


驱动电源热分布图及热点定位 

驱动电源热分布图及热点定位

案例二:电源失效分析

    委托单位反馈电源在使用约一年时间后出现烧毁失效,委托金鉴查找电源失效原因。金鉴工程师使用显微红外热分布测试系统对电源进行温度测试,测得碳膜电阻R9温度高达157.4℃,热敏电阻温度为101.0℃。一般建议碳膜电阻的最佳工作温度为70℃以下,热敏电阻的工作温度在120℃以内,而该电源中碳膜电阻在157.4℃温度下满载工作,因此金鉴工程师迅速锁定了该异常点。


电源热分布图及碳膜电阻分析 

电源热分布图及碳膜电阻分析

    由于碳膜电阻R9的实测工作温度为157.4℃,根据如下电力减轻曲线可知,155℃温度下的实际使用功率应为额定功率的5%左右,即0.1W左右,根据欧姆定律P=U²/R推算在155℃温度下可以使用的实际额定电压U=82V。而实际使用碳膜电阻R9的电压为366V,说明碳膜电阻R9处于超负荷使用状态,长期超负荷使用可能导致电阻值出现漂移,进而造成同一回路中的其他器件烧毁,发生电源烧毁失效。

    对正常电源和烧毁电源中的碳膜电阻进行电阻测试,结果显示:正常电源碳膜电阻阻值为67.5kΩ,烧毁的电源同一回路中的碳膜电阻阻值为88.3kΩ,证实碳膜电阻阻值已出现漂移。


正常电源和烧毁电源碳膜电阻阻值测试

正常电源和烧毁电源碳膜电阻阻值测试

  电阻参数在高温下出现漂移,长期使用会影响电阻的寿命和可靠性,建议委托单位优化电源设计,避免电源器件在高温下长期超负荷使用。

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