二手售出：TEM透射电镜 发布时间：2026-01-19
透射电子显微镜（TEM）是探索材料微观世界最强大的“眼睛”，是半导体失效分析、前沿纳米科技与新材料研发的核心装备。为优化实验室设备配置，金鉴实验室诚意转让TEM透射电镜（TF20）一台，设备在役良好，交付后即可投入使用。
欢迎联系客服18814096302获取设备价格，了解更多高清实物图片、详细设备履历或预约实地看机~
设备原理：
透射电子显微镜（TEM）以其卓越的分辨率，在半导体失效分析等领域中发挥着至关重要的作用。TEM利用高能电子束作为照明源，通过电磁透镜系统聚焦电子束，并将其投射到极薄的样品上。样品与电子的相互作用导致电子散射，形成具有不同明暗对比的图像。TEM的优势在于其能够观察到薄膜材料的微观形貌和尺寸。
设备参数：
设备功能与应用
本设备适用于无机材料的微观结构和局部成分分析，具备以下功能：
电子衍射：包括选区衍射、微束衍射和会聚束衍射
成像技术：明场成像、暗场成像、衍射成像、高分辨成像（HREM）、扫描透射成像、环形暗场成像（HAADF）
微区成分分析：利用EDS进行点、线、面的成分分析
注：本次售出不含能谱仪EDS，需另外购置，可协助选配
应用领域广泛，包括但不限于：
材料类型：适用于除磁性材料外的所有无机材料，如粉末、薄膜和块状材料；不适用于有机和生物材料
表征内容：微观形貌、颗粒尺寸、局部成分、元素分布、元素价态、化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构等
应用案例
半导体薄膜领域：结合聚焦离子束（FIB）、高分辨透射电镜（HRTEM）和能谱分析（EDS）进行分析
半导体LED领域：使用FIB、TEM和EDS进行材料分析
量子阱领域：通过机械磨抛和离子减薄技术，结合HRTEM进行研究
位错观察：利用HRTEM观察刃位错和螺旋位错
纳米线截面及能谱分析：结合FIB、HRTEM和电子能量损失谱（EELS）进行截面观察和成分分析
- 上一篇： 砥砺十三载，携手创未来 | 金鉴实验室十三周年庆典圆满成功
- 下一篇： 无数据
